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日期：2024-05-06
大塚首頁>產品目錄>反射式膜厚量測儀 FE-3000 非接觸式、不破壞樣品的光干涉式膜厚計。 高精度、高再現性量測紫外到近紅外波長反射率光譜，分析多層薄膜厚度、光學常數（n:折射率、k:消光係數 ......
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日期：2024-05-04
電子測距儀 依選用不同之光源及頻率，大致可分為電磁測距儀及光電測距 儀，其中電磁測距儀又可分成微波及雷達測距儀，多用於150 公里至2000 公里 ......
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日期：2024-05-04
幾何光學 一、反射、 折射、與 折射率 【目的】： 經由光線的軌跡來研究光的反射及 折射定律，並由入射角及 折射 ......
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日期：2024-05-01
大自然的光波可分為可見光及不可見光兩大類。 不可見光中的UVA紫外線(UV380nm以下)會傷害眼球水晶體，醫學證實肉眼若長時間曝曬於UV380的有害紫外線之下會導致白內障。 可見光是由紅、橙、黃、綠、藍、靛、紫等七色組成的白光，藍光由於能量高、感 ......
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日期：2024-05-02
非接觸式膜厚計，分析多層光學薄膜、量測紫外光到近紅外光光譜、薄膜到厚膜的寬闊量測範圍（10nm～40μm） ... 薄膜到厚膜的量測範圍、UV~NIR光譜分析。 高性能的低價光學薄膜量測儀。 藉由絕對反射率光譜分析膜厚。...
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日期：2024-05-03
紫外線/可見光分光光譜儀(UV/VIS/NIR spectrometers)是一種分析材料透光率及反射率的儀器，可適用於電子、光電、化工、材料等研究 ... 紫外線/可見光分光光譜儀的基本原理乃根據光電效應。...
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日期：2024-04-30
#p#John C. Lam 因為缺陷與後來的重工(rework)相對應的提高產生成本，精準光阻層的特性是使良率最佳化的關鍵因素。現在製造業者大多在profilometry與cross-sectional method兩種接觸方法(contact method)中選擇其中一種來使用，其方法就像掃瞄式電子顯微鏡 ......
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日期：2024-05-03
技術簡介 反射光譜式膜厚量測原理 以光譜儀搭配取像探頭，量測光源入射基板及薄膜後的反射干涉光譜，並透過演算法計算出薄膜材料的厚度 薄膜參數與光譜之關係簡介 由不同的薄膜之薄膜厚度及n, k材料參數，可推導出不同薄膜膜層結構於各波長之 ......
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